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[发明专利]实例分割结果评价参数确定方法及装置-CN201910157545.6有效
发明人：黄钊金;黄李超;王兴刚 -专利权人：北京地平线机器人技术研发有限公司
申请日： 2019-03-01 - 公布日： 2022-04-26 - 主分类号： G06V10/25 文献下载
摘要：本发明提供了一种实例分割结果评价参数确定方法及装置，本发明通过根据输入图像获得第一实例分割结果，根据输入图像和第一实例分割结果输入神经网络模型后确定第一实例分割结果的第一评价参数，进而实现了对于实例分割打分准确的技术效果
实例分割结果评价参数确定方法装置

[发明专利]监护设备中生理参数的统计显示方法及监护设备-CN201780098075.X在审
发明人：苏健伟;孙泽辉;关则宏;何先梁;叶文宇 -专利权人：深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司;深圳迈瑞科技有限公司
申请日： 2017-12-08 - 公布日： 2020-09-18 - 主分类号： G16H80/00 文献下载
摘要：一种监护设备中生理参数的统计显示方法及监护设备，该方法包括：接收和/或提取统计设置信息(501)，统计设置信息包含时间范围、时间区间、分类规则以及目标参数，分类规则规定目标参数的各类型；从历史生理参数结果中获取N个时间区间对应的N组目标参数结果(502)，N组目标参数结果为历史生理参数结果中目标参数对应的生理参数结果；依据分类规则统计N组目标参数结果中目标参数的各类型的数目，得到目标参数的各类型在N个时间区间对应的N组统计结果(503)；显示N组统计结果(504)。监护设备可根据用户的设置信息直观地显示目标参数的统计结果，操作简单。
监护设备生理参数统计显示方法

[发明专利]激励结果的预测方法、装置、电子设备及可读存储介质-CN201911260355.3在审
发明人：程少光;谢乾龙;王兴星 -专利权人：北京三快在线科技有限公司
申请日： 2019-12-10 - 公布日： 2020-05-15 - 主分类号： G06Q30/02 文献下载
摘要：本公开提供了一种激励结果的预测方法、装置、电子设备及可读存储介质，所述方法包括：获取目标信息，所述目标信息至少包括：商户特征、激励程度参数、用户特征，所述用户特征包括用户消费特征；将所述商户特征、所述用户特征输入至无激励结果预测模型，得到无激励结果参数；将所述用户消费特征输入至激励敏感度预测模型，得到激励敏感参数；根据所述无激励结果参数、所述激励程度参数、所述激励敏感参数确定有激励结果参数。所述方法可以采用激励敏感参数表示激励程度参数对激励结果的单独影响，进而基于无激励结果参数、激励敏感参数、激励程度参数确定有激励结果参数，有助于提高激励结果的预测准确度。
激励结果预测方法装置电子设备可读存储介质

[发明专利]一种电阻点焊工艺参数自动生成方法及其系统-CN202110812975.4有效
发明人：胡晓峰;周军;邓海军;汤耀文;江克洪;孟乐 -专利权人：吉利汽车集团有限公司;浙江吉利控股集团有限公司
申请日： 2021-07-19 - 公布日： 2022-12-02 - 主分类号： B23K11/11 文献下载
摘要：本发明提供了一种电阻点焊工艺参数自动生成方法及其系统，属于汽车焊接制造技术领域。它解决了现有技术中获取的焊接参数无法确定是最佳参数，无法保障每个焊点的焊接质量的问题。本电阻点焊工艺参数自动生成方法包括如下步骤：获取板材信息参数、焊接工艺参数和焊接结果参数；根据焊接结果参数建立焊接结果评价函数，进而根据焊接结果评价函数计算获得焊接结果评价值；将板材信息参数和焊接工艺参数作为输入，焊接结果评价值作为输出从而建立焊接结果预测模型；根据焊接结果预测模型预测特定板材信息参数的焊接结果预测值，进而生成对应特定板材信息参数的焊接结果预测值最高的焊接工艺参数。本发明能够获取高质量焊接工艺参数，提高焊接质量。
一种电阻点焊工艺参数自动生成方法及其系统

[发明专利]一种目标跟踪结果的评估方法、装置、设备及存储介质-CN202010339705.1有效
发明人：胡长德;张海波;王朝晖;刘强;海书亮;李春燕;徐小琴;李竟然;耿华芳 -专利权人：中国人民解放军战略支援部队航天工程大学士官学校
申请日： 2020-04-26 - 公布日： 2022-05-10 - 主分类号： G01C25/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种目标跟踪结果的评估方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：获取被跟踪目标的目标参数，所述被跟踪目标包括模拟目标或实体目标；获取所述目标跟踪结果的结果参数；基于所述目标参数和所述结果参数，获取所述目标跟踪结果的评估参数，所述评估参数包括跟踪误差参数和弹道难度参数和跟踪平稳程度参数。本发明可以提升针对目标跟踪结果评估的准确性。
一种目标跟踪结果评估方法装置设备存储介质

[发明专利]超参数处理方法、装置、电子设备及存储介质-CN202111176055.4在审
发明人：崔斌;黎洋;沈彧;姜淮钧;刘霁;姚鹏;李吉祥 -专利权人：北京大学;北京达佳互联信息技术有限公司
申请日： 2021-10-09 - 公布日： 2022-02-18 - 主分类号： G06N20/00 文献下载
摘要：本公开关于一种超参数处理方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：获取与历史超参数对应的历史验证结果；所述历史验证结果用于表征与所述历史超参数对应的已训练模型的性能数据；所述与所述历史超参数对应的已训练模型基于所述历史超参数对待训练模型进行训练得到；基于所述历史验证结果对未返回验证结果的目标超参数进行验证结果插补，得到所述目标超参数的插补结果；基于所述历史验证结果，以及所述目标超参数的插补结果，生成待验证超参数；将所述待验证超参数发送至队列；从所述队列中获取对所述待验证超参数的验证结果本公开能够解决对超参数空间的探索性下降以及浪费验证资源的问题。
参数处理方法装置电子设备存储介质

[发明专利]半导体结构的测试方法-CN202111276174.7在审
发明人：陈艺文;薛萌;陈旭;毛贵蕴;王勇 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2021-10-29 - 公布日： 2022-02-01 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提供了一种半导体结构的测试方法，包括：提供一半导体结构的若干参数的实际测试结果，若干参数包括选定参数及相关参数；基于一预测模型获取选定参数的预测测试结果；判断选定参数的实际测试结果以及预测测试结果是否在预设范围内；若两者均在或均不在预设范围，则判定选定参数的测试结果正常；若两者中仅一者在预设范围，则判定选定参数的测试结果异常，并重测半导体结构的选定参数。在本发明中，利用选定参数的预测测试结果与实际测试结果相比较以诊断实际测试结果是测试准确，可快速实现对半导体结构测试结果的诊断，不仅可降低整体的重测率，还可筛选出实际测试结果符合但预测测试结果不符合的情况
半导体结构测试方法

[发明专利]一种电动汽车的智能充电安全管理方法及系统-CN202210408350.6在审
发明人：张丽娜;余建军;马文龙;庄千洋;江孝伟 -专利权人：衢州职业技术学院
申请日： 2022-04-19 - 公布日： 2022-08-02 - 主分类号： B60L53/14 文献下载
摘要：本发明提供了一种电动汽车的智能充电安全管理方法及系统，包括：当接收到第一插枪信号时，获得第一状态检测指令，其中，第一状态检测指令包括第一电池状态检测指标和第一环境状态检测指标；获得第一外部参数检测结果和第一内部参数检测结果；通过第一外部参数检测结果和第一内部参数检测结果对充电参数进行优化，获得第一初始充电参数；获得第一环境参数检测结果；将第一初始充电参数和所述第一环境参数检测结果输入参数设定模型，获得第一参数设定结果；当接收到所述第一参数设定结果时，生成第一回路连通指令基于所述第一参数设定结果对所述第一动力电池进行充电。
一种电动汽车智能充电安全管理方法系统

[发明专利]一种基于过程参数的结果反馈方法及装置-CN201710771790.7有效
发明人：萧伟;刘雪松;凌娅;陈勇;王振中;姜晓红;毕宇安;李页瑞;包乐伟;章晨峰;王磊;陈永杰;杜定益 -专利权人：江苏康缘药业股份有限公司;浙江大学
申请日： 2017-08-31 - 公布日： 2019-08-16 - 主分类号： G06N3/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于过程参数的结果反馈方法及装置，所述反馈方法包括：接收结果反馈请求，所述反馈请求包括中间体结果类型；获取与所述反馈请求对应的过程参数，所述过程参数为多维参数，组成过程参数集；将所述过程参数集输入结果反馈神经网络模型，所述结果反馈神经网络模型由过程参数样本训练得到；获取所述结果反馈神经网络模型的输出结果。本发明通过建立结果反馈神经网络模型，对PKS制造过程中的输入参数进行分类，看反应物是否合格，实现智能反馈。
一种基于过程参数结果反馈方法装置

[发明专利]一种医疗设备系统以及通气治疗辅助设备-CN202180078228.0在审
发明人：王慧华;潘瑞玲 -专利权人：深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司
申请日： 2021-11-01 - 公布日： 2023-09-01 - 主分类号： A61M16/10 文献下载
摘要：一种医疗设备系统以及通气治疗辅助设备，通气治疗辅助设备包括：参数获取装置，用于获取患者在通气治疗中的生理参数和通气参数;处理器，对患者当前通气策略下的通气治疗开始计时，根据计时得到通气治疗时间，以及生成氧合呼吸指数;以及将氧合呼吸指数与氧合呼吸指数阈值进行比对，获取氧合呼吸指数比对结果，将生理参数与生理参数阈值进行比对，获取生理参数比对结果，将通气参数与通气参数阈值进行比对，获取通气参数比对结果，根据氧合呼吸指数比对结果、生理参数比对结果和通气参数比对结果输出处置建议。
一种医疗设备系统以及通气治疗辅助

[发明专利]参数标定方法、装置、电子设备以及存储介质-CN201910727311.0有效
发明人：方攀;陈岩 -专利权人： OPPO广东移动通信有限公司
申请日： 2019-08-07 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： G06T7/80 文献下载
摘要：本申请公开了一种参数标定方法、装置、电子设备以及存储介质。获取电子设备的待标定的影响因素以及影响因素的参数范围，获取待识别图像，待识别图像中包括多个待识别对象，在参数范围内调整影响因素的参数值对待识别图像中的多个待识别对象进行识别，获得多个识别结果，每个识别结果包括第一识别结果和第二识别结果，第一识别结果和第二识别结果呈负相关，从多个识别结果中确定至少一个识别结果作为目标识别结果，获取目标识别结果对应的目标参数值，将目标参数值标定为影响因素的当前参数值。本申请通过电子设备自动调整影响因素的参数值对待识别图像中的待识别对象进行识别，并根据识别结果对影响因素的参数值进行标定，提升标定的效率和效果。
参数标定方法装置电子设备以及存储介质

[发明专利]自动拍摄设备的拍摄参数调整方法及装置、自动拍摄设备-CN202011352769.1有效
发明人：傅峰峰 -专利权人：广州富港生活智能科技有限公司
申请日： 2020-11-27 - 公布日： 2022-08-02 - 主分类号： H04N5/232 文献下载
摘要：本发明公开了自动拍摄设备的拍摄参数调整方法及装置、自动拍摄设备，包括：在确定出第一拍摄参数之后，根据第一拍摄参数执行预拍摄操作得到第一拍摄结果；判断第一拍摄结果是否与期望拍摄结果相匹配，若否，则执行拍摄参数调整操作得到目标拍摄参数；根据目标拍摄参数执行拍摄操作得到与期望拍摄结果相匹配的第二拍摄结果。可见，本发明能够在预拍摄操作对应的拍摄结果与期望拍摄结果不匹配时，智能化的执行拍摄参数调整操作，使得根据调整后的拍摄参数执行拍摄操作得到的拍摄结果与期望拍摄结果相匹配，无需人为手动调整拍摄参数，简化了拍摄参数调整流程，有利于提高拍摄参数的调整效率，进而有利于提高拍摄效率以及得到所需拍摄结果的效率。
自动拍摄设备参数调整方法装置

[发明专利]半导体设备参数测试方法、装置、电子设备和存储介质-CN202211524358.5有效
发明人：阮正华;孙文彬 -专利权人：江苏邑文微电子科技有限公司;无锡邑文电子科技有限公司
申请日： 2022-12-01 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明提供一种半导体设备参数测试方法、装置、电子设备和存储介质，其中方法包括：基于测试结果评估条件以及种子测试样本的测试结果，获取种子测试样本的标签值；基于多个种子测试样本及其测试结果和标签值对结果预测模型进行训练后，将多个扩展测试样本输入至结果预测模型中，得到扩展测试样本的测试结果；基于种子测试样本及其测试结果和扩展测试样本及其测试结果，确定各个测试参数与约束参数之间的关联关系，并在确定目标参数后，基于关联关系确定在约束参数的参数值满足预设约束条件前提下使得目标参数最优的各个测试参数的最优参数值组合本发明实现了半导体设备工控软件参数的自动测试，可准确快速确定各个测试参数的最优参数值组合。
半导体设备参数测试方法装置电子设备存储介质

[发明专利]参数调整装置及参数调整方法-CN202080103542.5在审
发明人：前川清石;春尾七星 -专利权人：三菱电机株式会社
申请日： 2020-10-12 - 公布日： 2023-05-05 - 主分类号： G05B13/04 文献下载
摘要：参数调整装置(1)调整由控制装置(5)对控制对象实机(6)进行控制时所使用的控制参数，具有：第1参数调整部(3)，其基于控制对象实机(6)的举动的仿真结果对控制参数进行调整；以及第2参数调整部(4)，其基于控制对象实机(6)的举动对控制参数进行调整，进行使用了通过第1参数调整部(3)得到的控制参数的调整结果即第1调整结果及通过第2参数调整部(4)得到的控制参数的调整结果即第2调整结果之中的至少第1调整结果的学习，生成在控制参数的决定处理中使用的学习模型
参数调整装置方法

[发明专利]一种电路分析方法、装置、设备及存储介质-CN202210698106.8在审
发明人：许婷;闫珍珍;卜建辉;刘海南;赵发展;郭燕萍;高立博;王成成 -专利权人：中国科学院微电子研究所
申请日： 2022-06-20 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： G06F30/33 文献下载
摘要：通过删除蒙特卡洛仿真结果中当前次电路参数测量结果文件的表头信息，提取并保存电路参数的当前次测量结果。通过删除蒙特卡洛仿真结果中当前次工艺参数采样结果文件的表头信息，提取工艺参数的当前次采样结果变化量，并利用预设模型公式处理当前次采样结果变化量，得到工艺参数的当前次采样结果实际值。将当前次电路参数测量结果以及当前次工艺参数采样结果实际值合并后导入电子表格中，得到目标电路当前次蒙特卡洛仿真后的分析结果，便于电路设计人员较为高效地统计蒙特卡洛仿真结果，进而提高了在判定电路参数是否达标时的效率
一种电路分析方法装置设备存储介质

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